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Casa > Produtos > Circuitos integrados (ICs) > Lógica - lógica de especialidade > SN74BCT8373ADW
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SN74BCT8373ADW

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Disponível
75+
$9.233
Inquérito Online
Especificações
  • Modelo do Produto
    SN74BCT8373ADW
  • Fabricante / Marca
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Quantidade de estoque
    Disponível
  • Descrição
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Status sem chumbo / Status RoHS
    Sem chumbo / acordo com RoHS
  • Tensão de alimentação
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Embalagem do dispositivo fornecedor
    24-SOIC
  • Série
    74BCT
  • Embalagem
    Tube
  • Caixa / Gabinete
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Outros nomes
    SN74BCT8373ADWE4
    SN74BCT8373ADWE4-ND
    SN74BCT8373ADWG4
    SN74BCT8373ADWG4-ND
  • Temperatura de operação
    0°C ~ 70°C
  • Número de bits
    8
  • Tipo de montagem
    Surface Mount
  • Nível de sensibilidade à umidade (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Tempo de entrega padrão do fabricante
    6 Weeks
  • Tipo de lógica
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Status sem chumbo / status de RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Descrição detalhada
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Número da peça base
    74BCT8373

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Envio
Pagamento
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SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8373ADWR

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Descrição: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Descrição: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Disponível
RFQ
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